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芯片半导体封装强度测试,多功能推拉力测试仪不可少

发布时间:2023-12-09         文章来源:

有了芯片,才有了手机。

如今,芯片形成了非常广泛的应用,也衍生出了很多类别。

按照功能,我们经常将芯片分为:计算芯片、存储芯片、通信芯片、感知芯片、能源芯片、接口芯片。

按照等级,芯片又可以分为消费级、工业级、汽车级、军工级和航天级等。按照设计理念,还可以分为通用芯片(CPU、GPU等)、专用芯片(AISC)。

我们还可以按照工艺制程来分,例如大家经常听说的28nm、14nm、7nm、5nm。或者,按照半导体材料来分,例如硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等。
芯片半导体推拉力测试仪

芯片是经过封装(芯片制造流程的一道工序)之后,才变成了这样。芯片的内部核心外围一圈,是引脚(针脚)。细细的线,是引线。中间方形的部分,才是芯片真正的电路。

芯片质量好不好,引脚强度测试少不了,一般大厂都是用多功能推拉力测试仪

仪器应用:

适用于半导体封装、光通讯器材件封装、LED封装、COB/COG工艺测试、研究所材料力学研究、材料可靠性测试等领域都需要对一些PCB板上面的SMT元件,IC芯片,微焊点,BGA矩阵进行推拉力测试。相比传统的拉压力测试,此种测试因为产品细小,布局密度高,对拉压力试验机要求高,需要带显微镜放大,测试探针夹具精细,才能适合这种测试要求。

主要特点:利用软件计算平均力、波峰波谷、变形、屈服等。增加12项荷重计算行程或行程计算荷重,自动抓取,软件自动生成报告及存储功能,支持MES上传,通过坐标设定自动移位进行压缩。
多功能推拉力测试仪LB8600-1.jpg

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