产品型号:LB-8100H 采用全自动化设计模式,具备多功能,多模组,推拉力测试机可进行微电子引线键合后引线焊接强度测试、焊点与基板表面粘接力测试、焊球重复性推力疲劳测试(内引线拉力测试、微焊点推力测试、金球推力测试、芯片剪切力测试、SMT焊接元器件推力测试、BGA矩阵整体推力测试)。多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试,IC半导体封装测试、TO封装测试,IGBT功率模块封装测试,光电子元器件封装测试,汽车领域,航天航空领域,军工产品测试,研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。
设备特点:
1.所有传感器采用高速动态传感及高速数据采集系统,确保测试数据的准确无误。
2.采用公司独特研发的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的数据采集系统。
3.采用公司独有的安全限位及安全限速技术,让操作得心应手。
4.采用公司独有的智能灯光控制与调节系统,减少光源对视力的损伤。
5.标配高清观察显微镜,减少人员视觉疲劳。
6.双摇杆四向操作及人性化的软件配置使操作简单、方便。
7.结合人体学的独特设计,让使用人员更加舒适。
8.设备全方位的保护措施,避免因人员误操作对设备的损坏。
9.强大的研发实力,根据客户的需求提供订制化产品。
10.贴心的售后服务,让使用人员无后顾之忧。